Košík

0205564 - UPT-D 20020114 RIV CZ cze M - Část monografie knihy
Müllerová, Ilona
Mikroskopie pomalými elektrony.
[Microscopy by slow electrons.]
Medoty analýzy povrchů. Iontové, sondové a speciální metody. Praha: Academia, 2002 - (Frank, L.; Král, J.), s. 383 - 448. ISBN 80-200-0594-3
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: scanning electron microscope * imaging of surfaces * specimen chamber
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101177