0205363 - UPT-D 20010002 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jedlička, Petr - Lazar, JosefFrequency Noise Analysis of Semiconductor Lasers.
Proceedings of the 12th Czech-Slovak-Polish Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics (Proc. SPIE 4356). Washington: SPIEThe International Society for Optical Engineering, 2001 - (Peřina, J.; Hrabovský, M.; Křepelka, J.), s. 277-282. ISBN 0-8194-4047-7. ISSN 0277-786X.
[SPIE: Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics. Velké Losiny (CZ), 12.09.2000-15.09.2000]
Grant CEP: GA ČR GA101/98/P270; GA AV ČR IAA2065803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: external-cavity semiconductor laser * fluctuations * frequency noise measurements
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100977
