Košík

0205089 - UPT-D 980065 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Srnánek, R. - Škriniarová, J. - Kováč, J. - Frank, Luděk - Novotný, I. - Hotový, I. - Gottschalch, V.
Recognition of defects in semiconductor heterostructures on bevelled surface.
Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 - Proceedings of the Institute of Physics Conference (Series Number 160). Bristol: Institute of Physics Publishing Ltd., 1997 - (Donecker, J.; Rechenberg, I.), s. 409-412. ISBN 0-7503-0500-2.
[DRIP /7./. Berlin (DE), 07.09.1997-10.09.1997]
Grant ostatní: CEC(XE) CP93/12283
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100709