Košík

0189728 - UMBR-M 990045 RIV SIGLE HU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Šantrůček, Jiří - Nebesářová, Jana - Šimková, Marie - Roháček, Karel
Plant leaf surface observed in low-vacuum SEM.
Proceedings of the 4th multinational congress on electron microscopy. Veszprém: University of Veszprém, 1999, s. 139-140.
[Multinational congress on electron microscopy. Veszprém (HU), 05.09.1999-08.09.1999]
Klíčová slova: plant cytology
Kód oboru RIV: EA - Morfologické obory a cytologie
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0085534