Košík

0181500 - UFCH-W 20020238 RIV CZ cze M - Část monografie knihy
Lörinčík, Jan - Bastl, Zdeněk - Šroubek, Zdeněk
Hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů (SIMS).
[Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS).]
80-200-0594-3. In: Iontové, sondové a speciální metody. Praha: Academia, 2002 - (Frank, L.; Král, J.), s. 147-201. Metody analýzy povrchů.
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z4040901
Klíčová slova: mass spectrometry * SIMS
Kód oboru RIV: CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0078062