Košík

0132875 - FZU-D 20000130 SK C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Švrček, Vladimír - Pelant, Ivan - Fojtík, Petr - Toušek, J. - Kočka, Jan
Charakterizace mikrokrystalického křemíku metodami CPM a SPV.
[Chracterization of microcrystalline silicon by the CPM and SPV methods.]
13. Konferencia slovenských a českých fizikov. Zborník príspevkov. Zvolen: Slovenská fyzikálna spoločnosť, 2000 - (Reiffers, M.; Just, L.), s. 258-260. ISBN 80-228-0876-8.
[Konference slovneských a českých fyzikov /13./. Zvolen (SK), 23.08.1999-26.08.1999]
Grant CEP: GA AV ČR IAA1010809; GA ČR GA202/98/0669
GRANT EU: European Commission(XE) JOR3970145 - NEST
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030871