Košík

0109103 - UPT-D 20040108 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Influence of magnetic and electrostatic fields in the specimen vicinity on trajectories of secondary electrons in SEM.
[Vliv magnetického a elektrostatického pole v oblasti vzorku na trajektorie sekundárních elektronů v REM.]
Autumn School on Materials Science and Electron Microscopy 2004 - Emerging Microscopy for Advanced Materials Development: Imaging and Spectroscopy on Atomic Scale. Berlin: Humboldt University of Berlin, 2004, 24/1-24/2.
[Autumn School on Materials Science and Electron Microscopy 2004. Berlin (DE), 03.10.2004-07.10.2004]
Grant CEP: GA AV ČR IAA1065304
Klíčová slova: SEM * detective quantum efficiency * electron trajectories
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0016215