Košík

0109098 - UPT-D 20040103 RIV SI eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hrnčiřík, Petr - Müllerová, Ilona
Examination Of Nanostructures By Electron Beam.
[Studium nanostruktur elektronovým svazkem.]
EMAS 2004 - 6th Regional Workshop on Electron Probe Analysis Today - Practical Aspects. Bled: European Microbeam Analysis Society, 2004, s. 139.
[EMAS 2004 /6./ Electron Probe Analysis Today - Practical Aspects. Bled (SI), 08.05.2004-11.05.2004]
Grant CEP: GA AV ČR KJB2065405
Klíčová slova: scanning electron microscope * scanning Auger electron microscopy * very slow electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0016210