Košík

  1. 1.
    0101482 - UMCH-V 20043202 RIV SK cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Špírková, Milena - Matějíček, P. - Slepička, P.
    Charakterizace nanostruktur a nanočástic s využitím mikroskopie atomových sil (AFM).
    [Characterization of nanostructures and nanoparticles using atomic force microscopy.]
    Zborník. Bratislava: Ústav polymérov, 2004, s. 24-26.
    [Slovensko-české dni o polyméroch /3./. Smolenice (SK), 26.09.2004-29.09.2004]
    Grant CEP: GA AV ČR KSK4050111; GA ČR GA102/03/0449
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z4050913
    Klíčová slova: atomic force microscopy * surface morphology * nanoparticles
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0008908