Košík

0100019 - UPT-D 20040019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Examination of electronic structures and materials in scanning low energy electron microscope (SLEEM).
[Zkoumání elektronických struktur a materiálů v rastrovacím nízko-energiovém elektronovém mikroskopu (SLEEM).]
Proceedings of the International Conference NANO'03. Praha: ČSNMT, 2003, s. 87-92. ISBN 80-214-2527-X.
[NANO'03 International Conference. Brno (CZ), 21.09.2003-23.09.2003]
Grant CEP: GA AV ČR IAA1065304
Klíčová slova: SLEEM * electronic structures of the specimen * image resolutions
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0007526