0094360 - ÚPT 2008 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, IlonaApplications of the scanning low energy electron microscopy in materials science.
[Použití rastrovací nízkoenergiové elektronové mikroskopie v materiálových vědách.]
Proceedings of 2007 Japan-China-Australia Cooperative Symposium on Materials Science and Nanotechnology. Toyama: IKENO Laboratory, University of Toyama, 2007 - (Nishimura, K.; Matsuda, K.), s. 11-12. ISBN 978-4-9903248-1-0.
[Japan-China-Australia Cooperative Symposium on Materials Science and Nanotechnology 2007. Toyama (JP), 14.11.2007-17.11.2007]
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: low energies * contrast formation * multi-channel detection
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0154187
