Košík

  1. 1.
    0050901 - ÚPT 2007 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona
    Scanning Low Energy Electron Microscopy.
    [Rastrovací nízkoenergiová elektronová mikroskopie.]
    Proceedings of the 16th International Microscopy Congress - IMC16 (Vol. 2). Sapporo: Japanese Society of Microscopy, 2006, s. 651.
    [IMC16 - International Microscopy Congress /16./. Sapporo (JP), 03.09.2006-08.09.2006]
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: scanning electron microscopy * cathode lens mode * very low energies
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0140934