Košík

0050901 - ÚPT 2007 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona
Scanning Low Energy Electron Microscopy.
[Rastrovací nízkoenergiová elektronová mikroskopie.]
Proceedings of the 16th International Microscopy Congress - IMC16 (Vol. 2). Sapporo: Japanese Society of Microscopy, 2006, s. 651.
[IMC16 - International Microscopy Congress /16./. Sapporo (JP), 03.09.2006-08.09.2006]
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning electron microscopy * cathode lens mode * very low energies
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0140934