0048847 - ÚPT 2007 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jákl, Petr - Šerý, Mojmír - Liška, M. - Zemánek, PavelMeasurement of surface details with nanometer resolution using several optically held probes.
[Měření povrchových detailů s nanometrovým rozlišením pomocí několika opticky vázaných sond.]
Proceedings of SPIE (Vol. 6180) Photonics, Devices, and Systems III. Bellingham: SPIE, 2006, 61802A:1-6. ISBN 0-8194-6236-5. ISSN 0277-786X.
[Photonics, Devices, and Systems III. Praha (CZ), 08.06.2005-11.06.2005]
Grant CEP: GA AV ČR IAA1065203
Grant ostatní: EC 6FP(XE) ATOM3D No. 508952
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning probe microscopy * photonic force microscopy * optical tweezers * surface profile measurements
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139376
