Košík

  1. 1.
    0047349 - ÚPT 2006 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
    Metoda měření detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu.
    [Method for quantification of the detection efficiency of secondary electron detectors in the scanning electron microscope.]
    Interní kód: DETEFF ; 2005
    Technické parametry: Metoda objektivního hodnocení a postup měření kvantové detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu ve statickém režimu stabilního signálu a procedura vyhodnocení časové odezvy detektoru na signálový skok.
    Ekonomické parametry: Metoda umožňuje objektivní srovnání různých konfigurací detektorů a rovněž vyhodnocování efektu konstrukčních změn a inovací.
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: electron detectors * scanning electron microscope * detective quantum efficiency * secondary electrons
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0138282
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.