Košík

0044288 - ÚPT 2007 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
The Scanning Low Energy Electron Microscopy (SLEEM) Mode in SEM.
[Režim rastrovací nízkoenergiové elektronové mikroskopie (SLEEM) v REM.]
Microscopy and Microanalysis. Roč. 12, Suppl. 2 (2006), s. 152-153. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA ČR GA202/04/0281
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SEM * low energy electrons * SLEEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.108, rok: 2006
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0137111