Košík

0028799 - ÚPT 2006 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
Frank, Luděk
Noise in secondary electron emission: the low yield case.
[Šum sekundární emise elektronů při nízkém emisním výtěžku.]
Journal of Electron Microscopy. Roč. 54, č. 4 (2005), s. 361-365. ISSN 0022-0744
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) IAA1065304
Klíčová slova: secondary electrons * noise * SEM image noise * secondary emission noise * statistics of secondary electrons * non-Poisson factor
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 0.720, rok: 2005
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0118707