Košík

0022403 - ÚPT 2006 RIV CH eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona
Factors affecting the Collection Efficiency of Secondary Electrons in SEM.
[Faktory ovlivňující sběrovou účinnost sekundárních elektronů v REM.]
Proceedings - Microscopy Conference 2005 - Dreiländertagung /6./. Villigen: Paul Scherrer Institute, 2005, s. 48. ISBN N. ISSN 1019-6447.
[Dreiländertagung Microscopy Conference (MC 2005). Davos (CH), 28.08.2005-02.09.2005]
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) IAA1065304
Klíčová slova: ET detector * secondary electrons * collection efficiency
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111143