0367280 - ÚPT 2012 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hovorka, Miloš - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk - Mikulík, P.
Mapping of dopants in silicon by injection of electrons.
MC 2011 - Microscopy Conference Kiel. Kiel: DGE, 2011, IM7.P198:1-2. ISBN 978-3-00-033910-3.
[MC 2011 - Microscopy Conference. Kiel (DE), 28.08.2011-02.09.2011]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902; GA ČR GAP108/11/2270
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: dopant * silicon * scanning electron microscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0202020