0636691 - ÚMCH 2026 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Šlouf, Miroslav - Sikorová, Pavlína - Pavlova, Ewa - Swietek, Malgorzata Anna - Lartigue, L. - Skoupý, Radim - Krzyžánek, Vladislav
4D-STEM-in-SEM: changing an SEM microscope to a user-friendly powder electron diffractometer.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 31, č. 3 (2025), č. článku ozaf045. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN02000020; GA ČR(CZ) GA21-13541S
Institucionální podpora: RVO:61389013 ; RVO:68081731
Klíčová slova: 4D-STEM-in-SEM * electron diffraction * nanobeam diffraction
Obor OECD: Computer sciences, information science, bioinformathics (hardware development to be 2.2, social aspect to be 5.8); Electrical and electronic engineering (UPT-D)
Impakt faktor: 2.9, rok: 2023 ; AIS: 0.929, rok: 2023
Způsob publikování: Omezený přístup
Web výsledku:
https://academic.oup.com/mam/article/31/3/ozaf045/8160210DOI: https://doi.org/10.1093/mam/ozaf045
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0367628