Košík

  1. 1.
    0443489 - ÚPT 2016 CZ cze I - Interní tisk
    Samek, Ota - Zemánek, Pavel - Zobač, Martin - Vlček, Ivan - Neděla, Vilém - Srnka, Aleš - Králík, Tomáš - Hanzelka, Pavel - Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Kolařík, Vladimír - Mrňa, Libor - Jedlička, Petr - Mika, Filip - Jurák, Pavel - Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Pokorný, Pavel - Oulehla, Jindřich - Starčuk jr., Zenon
    Průvodce aplikačními možnostmi Ústavu přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    [Handbook of application capacities of the Institute of Scientific Instruments of the ASCR, v. v. i.]
    Brno: ÚPT AV ČR, 2012. 68 s. ISBN 978-80-87441-05-3
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: Institute of Scientific Instruments of the ASCR * application capacities
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0246202
     
     
  2. 2.
    0583494 - FZÚ 2024 RIV SK eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Remeš, Zdeněk - Babčenko, Oleg - Ridzoňová, Katarína - Tesárek, P.
    Surface changes induced by Argon plasma treatment of silicon dioxide microparticles.
    Proceedings of ADEPT - ADEPT 2023. Žilina: University of Žilina, 2023 - (Jandura, D.; Lettrichová, I.; Kováč, jr., J.), s. 47-50. ISBN 978-80-554-1977-0.
    [International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies /11./ - ADEPT 2023. Podbanské (SK), 12.06.2023-15.06.2023]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_019/0000760; GA MŠMT(CZ) GA23-05500S
    Grant ostatní: AV ČR(CZ) SAV-23-13
    Program: Bilaterální spolupráce
    Výzkumná infrastruktura: CzechNanoLab II - 90251
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: silicon dioxide * inductive coupled plasma * photothermal deflection spectroscopy * photoluminescence spectroscopy
    Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0351456
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.