Košík

0562785 - FZÚ 2023 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Romanyuk, Olexandr - Paszuk, A. - Gordeev, Ivan - Wilks, R.G. - Ueda, S. - Hartmann, C. - Félix, R. - Bär, M. - Schlueter, C. - Gloskovskii, A. - Bartoš, Igor - Nandy, M. - Houdková, Jana - Jiříček, Petr - Jaegermann, W. - Hofmann, J.P. - Hannappel, T.
Combining advanced photoelectron spectroscopy approaches to analyse deeply buried GaP(As)/Si(1 0 0) interfaces: Interfacial chemical states and complete band energy diagrams.
Applied Surface Science. Roč. 605, Dec. (2022), č. článku 154630. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_019/0000760; GA ČR GC18-06970J
Grant ostatní: OP VVV - SOLID21(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_019/0000760
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: XPS * GCIB * HAXPES * MOVPE * valence band offset * GaP(As)/Si
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 6.7, rok: 2022
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2022.154630
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0334984