Košík

0549814 - FZÚ 2022 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Meer, H. - Schreiber, F. - Schmitt, C. - Ramos, R. - Saitoh, E. - Gomonay, O. - Sinova, Jairo - Baldrati, L. - Kläui, M.
Direct imaging of current-induced antiferromagnetic switching revealing a pure thermomagnetoelastic switching mechanism in NiO.
Nano Letters. Roč. 21, č. 1 (2021), s. 114-119. ISSN 1530-6984. E-ISSN 1530-6992
GRANT EU: European Commission(XE) 766566 - ASPIN
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: insulating antiferromagnets spin * current-induced magnetic switching * NiO/Pt bilayers * temperature-induced strain
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 12.262, rok: 2021
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.0c03367
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0325719