Košík

  1. 1.
    0543290 - ÚFE 2022 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    He, Y. - Lin, S. - Robert, Marc Louis Hadrien - Li, H. - Zhang, P. - Piliarik, Marek - Chen, XW.
    Multiscale modeling and analysis for high-fidelity interferometric scattering microscopy.
    Journal of Physics D-Applied Physics. Roč. 54, č. 27 (2021), č. článku 274002. ISSN 0022-3727. E-ISSN 1361-6463
    Institucionální podpora: RVO:67985882
    Klíčová slova: interferometric scattering microscopy * multiscale modeling * near-to-far-field transformation * label-free * single-particle tracking * mass photometry
    Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
    Impakt faktor: 3.409, rok: 2021
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://doi.org/10.1088/1361-6463/abf70d
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0320523
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.