Košík

0535112 - FZÚ 2021 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Romanyuk, Olexandr - Supplie, O. - Paszuk, A. - Stoeckmann, J.Ph. - Wilks, R.G. - Bombsch, J. - Hartmann, C. - Garcia-Diez, R. - Ueda, S. - Bartoš, Igor - Gordeev, Ivan - Houdková, Jana - Kleinschmidt, P. - Baer, M. - Jiříček, Petr - Hannappel, T.
Hard X-ray photoelectron spectroscopy study of core level shifts at buried GaP/Si(001) interfaces.
Surface and Interface Analysis. Roč. 52, č. 12 (2020), s. 933-938. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_019/0000760; GA ČR GC18-06970J
Grant ostatní: OP VVV - SOLID21(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_019/0000760
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: buried interfaces * GaP/Si * HAXPES * interface chemical states
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 1.607, rok: 2020
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1002/sia.6829
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0313213