Košík

  1. 1.
    0534080 - ÚFM 2021 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
    Bürger, D. - Dlouhý, Antonín - Yoshimi, K. - Eggeler, G.
    How Nanoscale Dislocation Reactions Govern Low- Temperature and High-Stress Creep of Ni-Base Single Crystal Superalloys.
    Crystals. Roč. 10, č. 2 (2020), č. článku 134. ISSN 2073-4352. E-ISSN 2073-4352
    Institucionální podpora: RVO:68081723
    Klíčová slova: electron-microscopy * planar defects * precipitation * mechanisms * anisotropy * phase * shear * microstructure * deformation * faults * dislocation reactions * single crystal Ni-base superalloys * shear creep testing * transmission electron microscopy * nucleation of planar fault ribbons
    Obor OECD: Materials engineering
    Impakt faktor: 2.589, rok: 2020
    Způsob publikování: Open access
    https://www.mdpi.com/2073-4352/10/2/134
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0312299
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.