Košík

0534080 - ÚFM 2021 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Bürger, D. - Dlouhý, Antonín - Yoshimi, K. - Eggeler, G.
How Nanoscale Dislocation Reactions Govern Low- Temperature and High-Stress Creep of Ni-Base Single Crystal Superalloys.
Crystals. Roč. 10, č. 2 (2020), č. článku 134. ISSN 2073-4352. E-ISSN 2073-4352
Institucionální podpora: RVO:68081723
Klíčová slova: electron-microscopy * planar defects * precipitation * mechanisms * anisotropy * phase * shear * microstructure * deformation * faults * dislocation reactions * single crystal Ni-base superalloys * shear creep testing * transmission electron microscopy * nucleation of planar fault ribbons
Obor OECD: Materials engineering
Impakt faktor: 2.589, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
https://www.mdpi.com/2073-4352/10/2/134
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0312299