Košík

  1. 1.
    0126591 - BFU-R 20013151 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
    Zahradníčková, E. - Ševčíková, S. - Souček, Karel - Šmarda, J.
    Vliv proteinů Fos na růst a diferenciaci monoblastů transformovaných onkogenem v-myb.
    [The effects of Fos proteins on growth and differentiation of v-myb-transformed monoblasts.]
    SBORNÍK ABSTRAKT. Olomouc: Univerzita Palackého, 2001, s. 76.
    [Biologické dny /16./. Aktuální téma z buněčné a molekulární biologie. Olomouc (CZ), 05.09.2001-07.09.2001]
    Grant CEP: GA ČR GA301/01/0040
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z5004920
    Klíčová slova: Fos proteins * differentiation * v-myb-transformed monoblasts
    Kód oboru RIV: BO - Biofyzika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0024819
     
     
  2. 2.
    0126592 - BFU-R 20013152 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
    Ševčíková, S. - Souček, Karel - Bryja, V. - Šmarda, J.
    Vliv proteinů JUN na růst a diferenciaci monoblastů transformovaných onkogenem v-myb.
    [The effects of JUN proteins on growth and differentiation of v-myb-transformed monoblasts.]
    SBORNÍK ABSTRAKT. Olomouc: Univerzita Palackého, 2001, s. 75.
    [Biologické dny /16./. Aktuální téma z buněčné a molekulární biologie. Olomouc (CZ), 05.09.2001-07.09.2001]
    Grant CEP: GA ČR GA301/01/0040
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z5004920
    Klíčová slova: JUN * differentiation * v-myb-transformed monoblasts
    Kód oboru RIV: BO - Biofyzika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0024820
     
     
  3. 3.
    0523084 - ÚTAM 2021 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Vavřík, Daniel - Kytýř, Daniel - Žemlička, J.
    Stratigraphy of a layered structure utilizing XRF and scattered photons.
    Journal of Instrumentation. Roč. 15, March (2020), č. článku C03011. ISSN 1748-0221. E-ISSN 1748-0221.
    [International Workshop on Radiation Imaging Detectors /21./. Crete, 07.07.2019-12.07.2019]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_019/0000766; GA MK(CZ) DG18P02OVV006
    Klíčová slova: X-ray fluorescence (XRF) systems * inspection with x-rays * pixelated detectors and associated VLSI electronics
    Obor OECD: Coating and films
    Impakt faktor: 1.415, rok: 2020
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://doi.org/10.1088/1748-0221/15/03/C03011
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0307488
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.