Košík

0507477 - ÚMCH 2020 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Knotek, P. - Plecháček, T. - Smolík, J. - Kutálek, P. - Dvořák, F. - Vlček, Milan - Navrátil, J. - Drašar, Č.
Kelvin probe force microscopy of the nanoscale electrical surface potential barrier of metal/semiconductor interfaces in ambient atmosphere.
Beilstein Journal of Nanotechnology. Roč. 10, 15 July (2019), s. 1401-1411. ISSN 2190-4286. E-ISSN 2190-4286
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA16-07711S
Institucionální podpora: RVO:61389013
Klíčová slova: Kelvin probe atomic force microscope * nanoinclusion * Schottky barrier
Obor OECD: Inorganic and nuclear chemistry
Impakt faktor: 2.612, rok: 2019
Způsob publikování: Open access
https://www.beilstein-journals.org/bjnano/content/pdf/2190-4286-10-138.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0298458