Košík

    1.
    0469517 - ÚFE 2017 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Vaniš, Jan - Zelinka, J. - Zeipl, R. - Jelínek, M. - Kocourek, T. - Remsa, J. - Navrátil, J.
    Scanning Thermal Microscopy of Thermoelectric Nanostructures.
    Journal of Electronic Materials. Roč. 45, č. 3 (2016), s. 1734-1739. ISSN 0361-5235. E-ISSN 1543-186X
    Institucionální podpora: RVO:67985882
    Klíčová slova: secondary ion mass spectrometry * laser deposition * pulsed laser deposition
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.579, rok: 2016
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0267303
    Název souboruStaženoVelikostKomentářVerzePřístup
    UFE 0469517.pdf21.1 MBJinávyžádat
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.

Přijmout všeNastaveníOdmítnout vše