Košík

0454066 - ÚJF 2016 CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Nekvindová, P. - Švecová, B. - Staněk, S. - Vytykačová, S. - Macková, Anna - Malinský, Petr - Machovič, V. - Špirková, J.
The use of Raman spectroscopy for the monitoring of changes in the glass structure of the thin layers caused by ion implantation.
Ceramics - Silikáty. Roč. 59, č. 3 (2015), s. 187-193. ISSN 0862-5468. E-ISSN 1804-5847
Grant CEP: GA ČR(CZ) GBP108/12/G108; GA MŠMT LM2011019
Institucionální podpora: RVO:61389005
Klíčová slova: glasses * nano particles * Raman spectroscopy * ion implantation
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 0.485, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0254757