Košík

0436667 - ÚFP 2015 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Koláček, Karel - Schmidt, Jiří - Štraus, Jaroslav - Frolov, Oleksandr - Prukner, Václav - Melich, Radek
An extreme ultraviolet interferometer suitable to generate dense interference pattern.
Proceedings of SPIE 9206, Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics V. Bellingham: SPIE, 2014 - (Assoufid, L.; Ohashi, H.; Asundi, A.), 92060D-92060D. SPIE, 9206. ISBN 978-1-62841-233-8. ISSN 0277-786X.
[SPIE Conference on Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics V. San Diego (GB), 19.08.2014-21.08.2014]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LG13029
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: Extreme ultraviolet radiation * XUV interferometer * ablation threshold contour * XUV photodesorption * direct nanopatterningby XUV * application of Ar8+ XUV laser
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://proceedings.spiedigitallibrary.org/proceeding.aspx?articleid=1904459
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0240344