Košík

    1.
    0436000 - ÚFE 2015 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Lomov, A. A. - Punegov, V. I. - Nohavica, Dušan - Chuev, M.A. - Vasiliev, A.L. - Novikov, D. V.
    High-resolution synchrotron diffraction study of porous buffer InP(001) layers.
    Journal of Applied Crystallography. Roč. 47, č. 5 (2014), s. 1614-1625. ISSN 0021-8898. E-ISSN 1600-5767
    Institucionální podpora: RVO:67985882
    Klíčová slova: porous layers * X-ray reciprocal space mapping * indium phosphide
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 3.984, rok: 2014
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0239828
    Název souboruStaženoVelikostKomentářVerzePřístup
    UFE 0436000.pdf1897.7 KBJinávyžádat
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.

Přijmout všeNastaveníOdmítnout vše