Košík

0431976 - ÚPT 2015 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Krausko, J. - Runštuk, Jiří - Neděla, Vilém - Klán, P. - Heger, D.
Observation of a Brine Layer on an Ice Surface with an Environmental Scanning Electron Microscope at Higher Pressures and Temperatures.
Langmuir. Roč. 30, č. 19 (2014), s. 5441-5447. ISSN 0743-7463
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-22777S; GA MŠMT(CZ) LO1212
Klíčová slova: microstructural characterization * chemical-properties * organic-molecules * SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 4.457, rok: 2014
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0236483