Košík

0422032 - ÚPT 2014 FR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Hrabina, Jan - Hucl, Václav - Řeřucha, Šimon - Lazar, Josef - Konečný, P. - Valtr, M. - Campbellová, A. - Klapetek, P.
New concept of long-range scanning probe microscope stage based on mechanism with stuck planchets.
NanoScale 2013. 10th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 6th Seminar on Nanoscale Calibration Standards and methods.. Paris: Nanometrology Group, 2013, s. 9-10.
[NanoScale 2013. Seminar on Quantitative Microscopy (QM) /10./ and Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods /6./. Paris (FR), 25.04.2013-26.04.2013]
Grant CEP: GA MPO FR-TI1/241; GA ČR GAP102/10/1813
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: long-range stage * AFM * SPM * two axes of freedom positioning * nanoscale * optical rulers
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0228274