Košík

  1. 1.
    0422032 - ÚPT 2014 FR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Hrabina, Jan - Hucl, Václav - Řeřucha, Šimon - Lazar, Josef - Konečný, P. - Valtr, M. - Campbellová, A. - Klapetek, P.
    New concept of long-range scanning probe microscope stage based on mechanism with stuck planchets.
    NanoScale 2013. 10th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 6th Seminar on Nanoscale Calibration Standards and methods.. Paris: Nanometrology Group, 2013, s. 9-10.
    [NanoScale 2013. Seminar on Quantitative Microscopy (QM) /10./ and Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods /6./. Paris (FR), 25.04.2013-26.04.2013]
    Grant CEP: GA MPO FR-TI1/241; GA ČR GAP102/10/1813
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: long-range stage * AFM * SPM * two axes of freedom positioning * nanoscale * optical rulers
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0228274
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.