Košík

0421391 - ÚFM 2014 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Caha, O. - Meduňa, M. - Bernatová, S. - Růžička, J. - Mikulík, P. - Buršík, Jiří - Svoboda, Milan - Bernstorff, S.
X-ray scattering study of oxide precipitates in Cz-Si.
SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010 - (Vojtěchovský, K.). ISBN 978-80-254-7361-0.
[Scientific and Business Conference SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
Institucionální podpora: RVO:68081723
Klíčová slova: x-ray * silicon * defects
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0228231