Košík

0421238 - ÚPT 2014 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Holá, Miroslava - Hrabina, Jan - Oulehla, Jindřich - Čížek, Martin - Mikel, Břetislav - Řeřucha, Šimon - Buchta, Zdeněk - Číp, Ondřej - Lazar, Josef
Precision positioning with suppression of the influence of refractive index of air.
Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VIII (Proceedings of SPIE Vol. 8788). Bellingham: SPIE, 2013, 878831:1-7. ISBN 978-0-8194-9604-1.
[Optical Measurement Systems for Industrial Inspection /8./. Munich (DE), 13.05.2013-16.05.2013]
Grant CEP: GA ČR GA102/09/1276; GA ČR GPP102/11/P820; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: nanometrology * refractometry * interferometry * refractive index * nanoscale
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227647