Košík

    1.
    0406964 - UOCHB-X 910267 US eng J - Článek v odborném periodiku
    Kopešťanský, Josef - Tykva, Richard - Staněk, Stanislav
    SIMS Study of Semiconductor-Oxide-Metal Structure.
    Progress in Surface Science. Roč. 35, - (1991), s. 215-218. ISSN 0079-6816. E-ISSN 1878-4240
    Impakt faktor: 1.667, rok: 1991
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0127085
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.

Přijmout všeNastaveníOdmítnout vše