Košík

0390938 - FZÚ 2013 eng A - Abstrakt
Vetushka, Aliaksi - Fejfar, Antonín - Ledinský, Martin - Rezek, Bohuslav - Kočka, Jan
Conductive atomic force microscopy of delicate nanostructures in torsional resonance mode.
International Workshop on Scanning Probe Microscopy for Energy Applications /2./, Program and Abstracts. 2011.
[International Workshop on Scanning Probe Microscopy for Energy Applications /2./. 08.06.2011-10. 06. 2011, Mainz]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA MŠMT(CZ) MEB061012; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
GRANT EU: European Commission(XE) 240826 - PolySiMode
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: C-AFM * nanowires * TR-mode * TR-TUNA
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0219866