Košík

0389173 - FZÚ 2013 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Prastani, C. - Vetushka, Aliaksi - Fejfar, Antonín - Nanu, M. - Nanu, D. - Rath, J.K. - Schropp, R.E.I.
Conductivity mapping of nanoparticles by torsional resonance tunneling atomic force microscopy.
Applied Physics Letters. Roč. 101, č. 8 (2012), , "083107-1"-"083107-4". ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LM2011026; GA MŠMT 7E10061
GRANT EU: European Commission(XE) 240826 - PolySiMode
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: atomic force microscopy * nanoparticles * tin compounds * tunnelling
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.794, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0218063