Košík

0386447 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Zobačová, Jitka - Hüger, E. - Urbánek, Michal - Polčák, J. - Frank, Luděk
Imaging of SiCN thin films on silicon substrate in the scanning low energy electron microscope.
Physic and Nanoscale. (Proceedings of the 10th IUVSTA International Summer School ). Praha: IOP AS CR, 2012 - (Fejfar, A.; Vetushka, A.). ISBN 978-80-260-0619-0.
[Physics at Nanoscale. IUVSTA International Summer School /10./. Devět skal (CZ), 30.05.2012-04.06.2012]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SiCN thin films * sillicon substrate * scanning low energy electron microscope
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215745