Košík

0384161 - ÚFCH JH 2013 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Kalbáč, Martin - Kong, J. - Dresselhaus, M. S.
Raman Spectroscopy as a Tool to Address Individual Graphene Layers in Few-Layer Graphene.
Journal of Physical Chemistry C. Roč. 116, č. 35 (2012), s. 19046-19050. ISSN 1932-7447. E-ISSN 1932-7455
Grant CEP: GA AV ČR IAA400400911; GA MŠMT ME09060; GA ČR GAP204/10/1677; GA ČR(CZ) GAP208/12/1062
Institucionální podpora: RVO:61388955
Klíčová slova: chemical vapor deposition * transistor * films
Kód oboru RIV: CG - Elektrochemie
Impakt faktor: 4.814, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0213890