Košík

0375381 - ÚPT 2012 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Matějka, Milan - Urbánek, Michal - Kolařík, Vladimír
Scanning Probe Microscopy: Measuring on Hard Surfaces.
NANOCON 2011. 3rd International Conference. Ostrava: Tanger spol. s r. o, 2011, s. 701-704. ISBN 978-80-87294-27-7.
[NANOCON 2011. International Conference /3./. Brno (CZ), 21.09.2011-23.09.2011]
Grant CEP: GA MPO FR-TI1/576; GA MŠMT ED0017/01/01
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning probe microscopy * atomic force microscopy * hard surface samples measuring * image artifacts * polymer coatings
Kód oboru RIV: JP - Průmyslové procesy a zpracování
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0208052