Košík

0375351 - FZÚ 2012 JP eng A - Abstrakt
Rezek, Bohuslav - Verveniotis, Elisseos - Šípek, Emil - Stuchlík, Jiří - Ledinský, Martin - Kočka, Jan
Generating ordered Si nanocrystals via atomic force microscopy.
ICANS 24. Program and Abstracts Book. Nara, 2011. s. 33.
[International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors /24./ (ICANS 24). 21.08.2011-26.08.2011, Nara]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: Si nanocrystals * amorphous silicon * atomic force microscopy (AFM)
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0208027