Košík

0372290 - FZÚ 2012 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Campbellová, A. - Ondráček, Martin - Pou, P. - Pérez, R. - Klapetek, P. - Jelínek, Pavel
´Sub-atomic´ resolution of non-contact atomic force microscope images induced by a heterogeneous tip structure: a density functional theory study.
Nanotechnology. Roč. 22, č. 29 (2011), 295710/1-295710/7. ISSN 0957-4484. E-ISSN 1361-6528
Grant CEP: GA AV ČR IAA100100905; GA ČR GAP204/10/0952; GA ČR(CZ) GPP204/11/P578
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100100904
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: density functional theory * atomic force microscope * semiconductor surface * sub-atomic resolution
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.979, rok: 2011
http://iopscience.iop.org/0957-4484/22/29/295710
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0205643