Košík

0356009 - FZÚ 2011 JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Ledinský, Martin - Vetushka, Aliaksi - Stuchlík, Jiří - Fejfar, Antonín - Kočka, Jan
Microcrystalline silicon preferential crystallographic orientation by polarized Raman micro-spectroscopy.
Proceedings of The Third International Forum on Multidisciplinary Education and Research for Energy Science. Tokyo: Tokyo Institute of Technology Global COE Program, 2010 - (Hirai, S.; Maruyama, T.), s. 21-22. ISBN N.
[International Forum on Multidisciplinary Education and Research for Energy Science /3./. Ishigaki, Okinawa (JP), 09.12.2010-14.12.2010]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100100902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: thin films of amorpous silicon * microcrystalline silicon
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0194642