Košík

  1. 1.
    0352943 - ÚPT 2011 JP eng A - Abstrakt
    Mikmeková, Šárka - Matsuda, K. - Watanabe, K. - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
    SLEEM study of FIB induced damage.
    8th Japanese-Polish Joint Seminar on Micro and Nano Analysis. Kyoto: Kyoto University, 2010. s. 7-03.
    [Japanese-Polish Joint Seminar on Micro and Nano Analysis /8./. 05.09.2010-08.09.2010, Kyoto]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: scanning low energy electron microscope * focused ion beam technique * SRIM2008
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192319
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.