Košík

  1. 1.
    0436108 - ÚVGZ 2015 RIV CZ slo M - Část monografie knihy
    Ač, Alexander
    Klimatické zmeny a ich vplyv na rozvojove krajiny.
    [Climate changes and their impact on developing countries.]
    Globálne vzedlávanie: kontext a kritika. Zvolen: Technická univerzita vo Zvolene, 2014 - (Gallayová, Z.; Hipš, J.; Urbanová, K.), s. 54-63. ISBN 978-80-228-2677-8
    Institucionální podpora: RVO:67179843
    Klíčová slova: climate change * developing countries * global warming * natural disasters
    Kód oboru RIV: EH - Ekologie - společenstva
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0239893
     
  2. 2.
    0308202 - ÚPT 2008 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Mika, Filip - Frank, Luděk
    Two-dimensional dopant profiling with low energy SEM.
    [Tvorba dvourozměrných profilů dopantu s níkoenergiovým SEM.]
    Journal of Microscopy. Roč. 230, č. 1 (2008), s. 76-83. ISSN 0022-2720. E-ISSN 1365-2818
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: dopant contrast * low energy SEM * semiconductors
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.409, rok: 2008 ; AIS: 0.77, rok: 2008
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160756
     
  3. 3.
    0351617 - FZÚ 2011 RIV US eng C - Conference Paper (international conference)
    Novotný, Michal - Bulíř, Jiří - Lančok, Ján - Pokorný, Petr - Bodnár, Michal - Piksová, K.
    Fabrication of nanostructured aluminium thin film and in-situ monitoring of the growth.
    Nanostructured Thin Films III. Bellingham: SPIE, 2010 - (Martin-Palma, R.; Jen, Y.; Lakhtakia, A.), 7766OU/1-7766OU/8. Proceedings of SPIE, 7766. ISBN 9780819482624. ISSN 0277-786x.
    [Nanostructured Thin Films III. San Diego (US), 04.08.2010-05.08.2010]
    R&D Projects: GA AV ČR IAA100100718; GA AV ČR KAN400100653; GA ČR GP202/09/P324; GA AV ČR IAA100100729
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z10100522
    Keywords : aluminium ultra thin film * magnetron sputtering * in-situ monitoring * electrical conductivity * spectral ellipsometry * optical emission spectroscopy
    Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
    Result website:
    http://dx.doi.org/10.1117/12.860555
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0191329
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.