Košík

  1. 1.
    0380217 - ÚT 2013 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Janovská, Michaela - Sedlák, Petr - Seiner, Hanuš - Landa, Michal - Márton, Pavel - Ondrejkovič, Petr - Hlinka, Jiří
    Anisotropic elasticity of DyScO3 substrates.
    Journal of Physics-Condensed Matter. Roč. 24, č. 38 (2012), s. 1-8. ISSN 0953-8984. E-ISSN 1361-648X
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA101/09/0702; GA ČR(CZ) GAP107/10/0824; GA ČR GD202/09/H041
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20760514; CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: resonant ultrasound spectroscopy * rare-earth scandates * elastic constants * substrates for epitaxial growth
    Kód oboru RIV: BI - Akustika a kmity; BI - Akustika a kmity (FZU-D)
    Impakt faktor: 2.355, rok: 2012 ; AIS: 1.04, rok: 2012
    Web výsledku:
    http://iopscience.iop.org/0953-8984/24/38/385404DOI: https://doi.org/10.1088/0953-8984/24/38/385404
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210984
     
     
  2. 2.
    0189603 - UMBR-M 970056 RIV SIGLE SK eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Špak, Josef - Kubelková, Darina - Janečková, M.
    Raspberry bushy dwarf virus in the Czech Republic.
    Proceedings of 14th Slovak and Czech plant protection conference. Nitra: Slovak Agric. Univ., 1997, s. 54-55.
    [Slovak and Czech Plant Protection Conference /14./. Nitra (SK), 03.09.1997-04.09.1997]
    Grant CEP: GA MŠMT OC 823.10
    Klíčová slova: Czech Republic * dwarf virus * raspberry
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0085412
     
  3. 3.
    0341955 - FZÚ 2010 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Mates, Tomáš - Bronsveld, P.C.P. - Fejfar, Antonín - Rezek, Bohuslav - Kočka, Jan - Rath, J.K. - Schropp, R.E.I.
    Structure of mixed-phase Si films studied by C-AFM and X-TEM.
    [Struktura smíšené fáze tenkých křemíkových vrstev studovaná pomocí vodivostního AFM a průřezového TEM.]
    Journal of Physics: Conference Series. Roč. 61, - (2007), s. 790-794. ISSN 1742-6588. E-ISSN 1742-6596
    Grant CEP: GA MŽP(CZ) SN/3/172/05
    Klíčová slova: microcrystalline silicon * conductive AFM * cross-sectional TEM
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0184793
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.