Košík

0341951 - FZÚ 2010 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Mates, Tomáš - Fejfar, Antonín - Rezek, Bohuslav - Kočka, Jan - Bronsveld, P.C.P. - Rath, J.K. - Schropp, R.E.I.
C-AFM and X-TEM: studies of mixed-phase silicon thin films.
[C-AFM a X-TEM: zkoumání heterostrukturních tenkých vrstev křemíku.]
G.I.T. Imaging and Microscopy. Roč. 10, č. 1 (2008), s. 30-32. ISSN 1439-4243
Grant CEP: GA MŽP(CZ) SN/3/172/05
Klíčová slova: conductive atomic force microscopy * cross-sectional transmission electron microscopy * silicon thin films
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0184790