0338215 - FZÚ 2010 RIV LU eng A - Abstrakt
Vetushka, Aliaksi - Fejfar, Antonín - Ledinský, Martin - Rezek, Bohuslav - Stuchlík, Jiří - Kočka, JanProbing charge transport in hydrogenated micro-crystalline silicon thin films with nanometer resolution.
[Měření transportu náboje v tenkých vrstvách hydrogenovaného mikrokrystalického křemíku s nanometrovým rozlišením.]
EuroNanoForum 2009 - Nanotechnology for Sustainable Economy. Luxembourg: Office for Official Publications of the European Communities, 2009 - (Fantechi, S.; Havlíčková, L.; Svobodová, E.; Fryček, R.; Albrecht, V.). s. 109. ISBN 978-92-79-11109-9.
[EuroNanoForum 2009. 02.06.2009-05.06.2009, Prague]
Grant CEP: GA ČR GD202/09/H041; GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: charge transport * silicon thin films * conductive atomic force microscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0182052