Košík

0335882 - ÚPT 2011 IT eng A - Abstrakt
Hovorka, Miloš - Mikmeková, Šárka - Frank, Luděk
Scanning low energy electron microscopy of doped silicon at units of eV.
6th International Workshop on LEEM/PEEM. Trieste: ELETTRA, 2008. s. 110. ISBN N.
[International Workshop on LEEM/PEEM /6./. 07.09.2008-11.09.2008, Trieste]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: very low energy electron microscopy * scanning low energy electron microscope
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180232